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本文標題："礦物顯微鏡用N.A值較大的物鏡光譜測量儀器"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2015-3-30 10:11:21

礦物顯微鏡用N.A值較大的物鏡光譜測量儀器

顯微鏡的第二耀光會影響測定結果，避免方法可見

下段。

倍增管光度計特別適用于系統測定礦物在整個可見

光譜內的反射率，從而繪出反射率色散曲線。

具體測定時，有下列兩種程序。

（A）先測定反射率標準在可見光所有波長在整個可

見光譜內的反射率，從而繪出反射率長中的光電流值

，然后計算末知礦物的反射率。

（B）在某一波長測標準和末知礦物后，換一個波長

再測，如此測遍整個欲測光譜。

上述A法很便利，在采用連續式干涉濾光器時，

只要一次對焦準確，開動光度計后，每隔一定間距

（例如10毫微米）推動一次連續干涉濾光器，

即可連續記錄標準和礦物在不同單色光下光電流值

（或反射率），僅在用N.A值較大的物鏡時，

在波長相差較大的波段（例如紅光和藍光）

須重新準焦。此法另一優點是

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