原子力顯微鏡簡介

什么是原子力顯微鏡？

原子力顯微鏡（英文名：Atomic Force Microscope ），是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。

儀器結構：

在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，可分成三個部分：力檢測部分、位置檢測部分、反饋系統(tǒng)。

工作模式：

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：非接觸模式（Nnon - Contact Mode) 、接觸模式（Contact Mode） 和敲擊模式（ Tapping Mode） 。